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介电温谱测量系统测量介电常数、介电损耗、阻抗以及它们随温度、时间、频率变化的曲线,同时得出相位θ、Cole-Cole图、导纳图和压电材料的机电耦合系数(选配)等。
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高温电阻测量系统使用多种测量方法测量材料电阻,如四线电阻法,2线法,三环电极法,4探针法等。
电阻测量和监控对于任何使用导电薄膜的行业都至关重要,从半导体制造到可穿戴技术所需的柔性电子产品。R50薄膜电阻测试仪(四探针、电涡流)在金属膜均匀性分布、离子掺杂和注入表征、薄膜厚度和电阻率分布、以及非接触膜厚等量测均进行了优化加强。
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