咨询电话:13922118053
Products产品中心
首页 > 产品中心 > 轮廓/膜厚测量 > 椭偏仪 > Nanofilm_EP4椭偏仪

椭偏仪

简要描述:椭偏仪:超薄膜的实时可视化分析测试,实时观察样品微观尺度上的结构。可以测量诸如薄膜厚度、折射率和吸收系数等参数。也可以对薄膜进行区域化(选区)分析,获得所选区域的成像分析图。

  • 产品型号:Nanofilm_EP4

详细介绍

品牌其他品牌产地类别进口
应用领域综合

椭偏仪

超薄膜的实时可视化分析测试,实时观察样品微观尺度上的结构。可以测量诸如薄膜厚度、折射率和吸收系数等参数。也可以对薄膜进行区域化(选区)分析,获得所选区域的成像分析图。

椭偏仪产品特点

ª 自动消光型椭偏分析技术和传统的显微镜技术结合,可视化实时图像椭偏分析,横向(X/Y方向)分辨率优于1μm

ª 实时椭偏对比度图像,实时视频图像分析。样品的所有微结构、缺陷、污染和动态变化过程都将一览无余。

ª 全画幅聚焦技术解决了斜角入射导致的全画幅聚焦问题,适用于动态原位分析测试,如自组装单分子层的生长和移动、蛋白质相互作用和水面单分子层的漂移等。

ª 光斑切割技术,真正实现超薄透明基底上薄膜的无背底反射椭偏测试。

基础参数


样品对准

探测Z方向的位置和倾斜,倾转轴探测精度:0.001°,Z向精度:1μm

仪器对准

光学系统角度倾转调整,独立于样品位置,倾转轴探测精度:0.001°

Z轴升降系统

行程范围:>100mm,可重复性:lμm

光源

低氙弧灯激光光源,噪声低至0.1%,长寿命10000小时;

可选单波长激光光源或200-2000nm连续波长光源;

提供250-1700nm光栅单色器,中段波长精度<1nm,带宽5/6/12nm;

可选光斑切割照明模块,实现透明基底薄膜的无背底反射干扰测量;

光学成像系统

聚焦扫描系统,在变角度测量时(<80°)实现实时图像,兼容所有物镜,横向分辨率<1μm;

全画幅聚焦图像/实时视频,横向分辨率2μm,工作入射角:52°~57°;

探测器

单色千兆网(GigE)CCD相机,波长:360nm-1000nm,1392×1040 px,12位,40帧/秒;

可选近红外(NIR)探测相机和紫外线(UV)探测相机;

可选多相机匹配及切换系统;

物镜

2×-50×物镜;

UV/IR物镜;

自动转角仪

入射角范围:38°-90°,分辨率:0.001°,角精度:0.01°,转动速度:-5°/秒

Z轴自动升降系统

行程:12cm,可重复性:1μm,分辨率0.5μm

拓展附件

表面等离子共振(SPR)单元,固/液界面分析单元,光导液/液界面分析单元,微流控分析单元,温度控制单元,电化学分析单元等

联用技术

AFM、石英晶体微天平、反射光谱仪、拉曼光谱仪、白光干涉仪等





产品咨询

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
深圳市锡成科学仪器有限公司
  • 联系人:周先生
  • 地址:深圳市光明区田寮路明发光明轩A907
  • 邮箱:info@lab-sci.cn
  • 传真:
关注我们

欢迎您关注我们的微信公众号了解更多信息

扫一扫
关注我们
版权所有 © 2025 深圳市锡成科学仪器有限公司(www.xcinst.com) All Rights Reserved    备案号:粤ICP备2025402888号    sitemap.xml
管理登陆    技术支持:化工仪器网